本款冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱滿足于GB/T2423.5（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度沖擊試驗(yàn)方法），本設(shè)備主要是模擬溫度突變，瞬間由高溫到低溫、再由低溫到高溫，循環(huán)反復(fù)的溫度突變，來考核試驗(yàn)樣品的性能變化提供一種依據(jù)。

冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱廠家滿足于GB/T2423.5（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度沖擊試驗(yàn)方法），本設(shè)備主要是模擬溫度突變，瞬間由高溫到低溫、再由低溫到高溫，循環(huán)反復(fù)的溫度突變，來考核試驗(yàn)樣品的性能變化提供一種依據(jù)。