高低溫試驗箱用于試驗產(chǎn)品在高低溫的環(huán)境下模擬運行，以評估產(chǎn)品的工作性能，適用于IEC60068,GB/T2423.1-2008,GB/T2423.2-20制作標準為GB/T5170.18-2005.GB/T10589（低溫試驗箱技術條件）、GB/T11158（高溫試驗箱技術條件）

產(chǎn)品概述：本步入式高低溫濕熱試驗箱，根據(jù)需方要求，依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的國家標準《GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗規(guī)程A/B：低溫試驗方法，高溫試驗方法》、《GB/T2423.3-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》

本可程式高低溫試驗箱用于試驗電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低的環(huán)境下存儲、運輸和使用時的適用性試驗，以評估產(chǎn)品的工作性能，適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法

本杭州奧博可程式高低溫試驗箱廠家適用于GB/T2423.34-2005（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程：試驗Z/AD 溫度循環(huán)試驗方法：IEC60068，GB、T2423.1-2008GB/T2423.2-2008，制作標準為GB/T5170.18-2005，GB/T10589（低溫試驗箱技術）、GB/T11158（高溫試驗箱技術條件）

產(chǎn)品概述：本杭州奧博步入式高低溫濕熱試驗箱廠家根據(jù)需方要求，依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的國家標準《GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗規(guī)程A/B：低溫試驗方法，高溫試驗方法》、《GB/T2423.3-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法 可供各種元器件、整機作恒溫試驗，用途廣泛。 特 點 箱體采用拼板組合結構，便于現(xiàn)場安裝，運行可靠。

產(chǎn)品概述：本杭州步入式高低溫濕熱試驗箱廠家根據(jù)需方要求，依據(jù)電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的國家標準《GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗規(guī)程A/B：低溫試驗方法，高溫試驗方法》、《GB/T2423.3-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境基本試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法 可供各種元器件、整機作恒溫試驗，用途廣泛。 特 點 箱體采用拼板組合結構，便于現(xiàn)場安裝，運行可靠。